微型IC測(cè)試分類(lèi)機(jī)
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產(chǎn)品名稱(chēng): 微型IC測(cè)試分類(lèi)機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3270
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
適合CMOS影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī)
3x3mm微型IC處理能力
浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力
IC殘留檢測(cè)功能
微型IC測(cè)試分類(lèi)機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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適合CMOS影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
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可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī)
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3x3mm微型IC處理能力
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浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力
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IC殘留檢測(cè)功能
Chroma 3270是一款**的微型IC測(cè)試分類(lèi)機(jī)，特別適合CMOS影像感應(yīng)元件(CMOS Image Sensor, CIS)量產(chǎn)所需，Chroma 3270可配合多種不同的封裝類(lèi)型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封裝。 Chroma 3270采用Pick&Place技術(shù)，可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC，移動(dòng)到 測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之Tray盤(pán)。
Chroma 3270能同時(shí)處理32個(gè)待測(cè)物進(jìn)行平行測(cè)試，并提供50?C~125?C高溫測(cè)試選擇。不但能提高產(chǎn)量，提升生產(chǎn)良率，同時(shí)大幅降低測(cè)試成本。
