光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): 58635-F 光電元件遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
依據(jù)ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)
*大可測(cè)試6吋晶圓
寬廣的測(cè)試范圍與高精準(zhǔn)溫度控制
同時(shí)支持Pulse與CW模式操作
LIV量測(cè) : Model 58635-L
近場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-N
遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-F
支持Multisite測(cè)試
光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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依據(jù)ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)
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*大可測(cè)試6吋晶圓
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寬廣的測(cè)試范圍與高精準(zhǔn)溫度控制
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同時(shí)支持Pulse與CW模式操作
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LIV量測(cè) : Model 58635-L
近場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-N
遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-F
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支持Multisite測(cè)試
隨著光電組件的技術(shù)越趨成熟，應(yīng)用也越來越廣泛。其中，雷射二極管 (Laser Diode) 除通訊應(yīng)用外，也朝消費(fèi)性應(yīng)用擴(kuò)展。因應(yīng)此全新市場(chǎng)，致茂電子藉由多年累積之光電量測(cè)技術(shù)，開發(fā)專為消費(fèi)性應(yīng)用之光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)Model 58635系列機(jī)種。
58635系列*大可測(cè)試6吋晶圓，并搭配致茂電子之精密測(cè)試儀器設(shè)備，如電流源與溫度控制器，能滿足雷射二極管測(cè)試之嚴(yán)苛要求，雷射二極管相關(guān)光電特性參數(shù)隨溫度變化而有所變異，58635系列機(jī)種精準(zhǔn)之溫度控制，能提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確之量測(cè)數(shù)值。
Model 58635系列因應(yīng)不同測(cè)試需求，共包含3機(jī)種：58635-L，58635-N，以及 58635-F。
LIV量測(cè)系統(tǒng)
致茂電流源提供準(zhǔn)確穩(wěn)定之電流源以及電壓量測(cè)，搭配積分球與光譜儀，提供準(zhǔn)確之光功率與波長量測(cè)。藉由58635-L完整之軟件功能，所有LIV與波長之相關(guān)參數(shù)均能在此量測(cè)。
近場(chǎng)量測(cè)系統(tǒng)
58635-N參照ISO關(guān)于雷射近場(chǎng)量測(cè)之相關(guān)規(guī)范，對(duì)于雷射二極管之光束傳播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束質(zhì)量 (Beam Quality) 之相關(guān)參數(shù)，提供精準(zhǔn)快速之量測(cè)。
遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè)系統(tǒng)
58635-F針對(duì)雷射二極管之遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)特性進(jìn)行測(cè)量，諸如雷射之發(fā)光角度。另參照IEC人眼**相關(guān)規(guī)范，58635-F能于遠(yuǎn)場(chǎng)找尋光束*強(qiáng)之處，從而判斷是否符合人眼**相關(guān)規(guī)范。
應(yīng)用范圍
